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當(dāng)前位置:首頁  >  產(chǎn)品中心  >  進(jìn)口探傷儀  >  超聲探傷-UT  >  EPOCH 1000便攜式超聲波UT探傷儀升級(jí)相控陣PA

便攜式超聲波UT探傷儀升級(jí)相控陣PA

簡(jiǎn)要描述:便攜式超聲波UT探傷儀升級(jí)相控陣PA ,EPOCH 600的升級(jí)版EPOCH 650,EPOCH 6LT儀器僅重890克,EPOCH 1000系列數(shù)字式超聲探傷儀將常規(guī)便攜式探傷儀的高級(jí)性能和相控陣成像能力結(jié)合在一起。EPOCH 1000、1000 iR及1000 i儀器的新型機(jī)身結(jié)構(gòu)橫寬豎窄,配有全VGA顯示屏和用于參數(shù)調(diào)節(jié)的飛梭旋鈕和瀏覽箭頭鍵區(qū),且*符合E

  • 產(chǎn)品型號(hào):EPOCH 1000
  • 廠商性質(zhì):代理商
  • 更新時(shí)間:2024-07-06
  • 訪  問  量:3484

詳細(xì)介紹

便攜式超聲波UT探傷儀升級(jí)相控陣PA EPOCH 1000

一般技術(shù)規(guī)格外型尺寸(寬 x 高 x 厚)252 mm x 177 mm x 107 mm
 重量3.67公斤,包括鋰離子電池。
 鍵區(qū)英文、符號(hào)、日語、中文
 語言英語、西班牙語、法語、德語、日語、漢語、俄語、意大利語、波蘭語
 探頭接口BNC接口,或 LEMO接口
 數(shù)據(jù)存儲(chǔ)機(jī)載多達(dá)10,000個(gè)帶波形的ID編碼,標(biāo)準(zhǔn)4 GB閃存卡(可插拔)
 電池類型單個(gè)鋰離子電池,可充電,標(biāo)準(zhǔn)型
 電池工作時(shí)間8小時(shí)(常規(guī)UT模式);7小時(shí)(相控陣模式)
 電源要求AC主電源:100 VAC~120 VAC、200 VAC~240 VAC,50 Hz~60 Hz
 待機(jī)狀態(tài)待機(jī)時(shí)間在15分鐘到120分鐘之間可調(diào),可節(jié)省50 %的電池耗電量。
 顯示器類型全VGA(640 x 480像素)透反彩色LCD顯示,更新速率為60 Hz。
 顯示屏尺寸(寬 x 高,對(duì)角線)132.5 mm x 99.4 mm,165.1 mm
輸入/輸出USB接口1個(gè)USB客戶端口,3個(gè)USB主機(jī)端口
 RS-232
 視頻輸出VGA輸出標(biāo)準(zhǔn)
 模擬輸出4個(gè)模擬輸出,可選1V/10V全標(biāo)度、大4 mA
 報(bào)警輸出6個(gè)報(bào)警輸出,5V TTL,10 mA
 觸發(fā)器I/O觸發(fā)器輸入為5V TTL;觸發(fā)器輸出為5 V TTL,10 mA
 編碼器輸入雙軸編碼器線(正交)
環(huán)境評(píng)級(jí)IP評(píng)級(jí)設(shè)計(jì)符合IP66要求。
 爆炸性氣氛通過美軍標(biāo)準(zhǔn)MIL-STD-810F方法511.4程序1中規(guī)定的測(cè)試。爆炸性氣氛為NFPA 70,500節(jié)I級(jí)2分段D組中定義的氣氛。
 防撞擊測(cè)試通過IEC 600689-2-27的防撞擊測(cè)試,60 g,6 μs半正弦,共18軸。
 防振動(dòng)測(cè)試通過了IEC 60068-2-6的正弦振動(dòng)測(cè)試,5 Hz~150 Hz,2 g的位移振幅,20個(gè)振動(dòng)周期。
 工作溫度-10° C~50° C
 電池存儲(chǔ)溫度-20° C~60° C
 電池充電溫度0° C ~40° C
EPOCH 1000i相控陣技術(shù)規(guī)格聚焦法則61個(gè)
 物理探頭64個(gè)晶片
 虛擬探頭16個(gè)晶片
 視頻濾波關(guān)閉、低、高
 顯示模式A掃描、S掃描、線性掃描、C掃描、帶圖像的A掃描
 圖像更新速率所有A掃描的更新速率為60 Hz;所有圖像的更新速率為20 Hz。
脈沖發(fā)生器
 EPOCH 1000、EPOCH 1000iR 、EPOCH 1000i
(常規(guī)UT模式)
EPOCH 1000i
(PA模式)
脈沖發(fā)生器類型可調(diào)方波
PRF5 Hz~6000 Hz,增量為5 Hz。手動(dòng)可調(diào)。大為1520 Hz。
能量設(shè)置50 V~475 V,增量為25 V。40 V或80 V
脈沖寬度25 ns~5000 ns(0.1MHz)范圍內(nèi)可調(diào),利用PerfectSquare技術(shù)。40 ns~1000 ns可調(diào),利用PerfectSquare技術(shù)。
阻尼50、100、200、400 Ω不適用
脈沖發(fā)生器延遲不適用0~10 µs,分辨率為2.5 ns。
接收器
 EPOCH 1000、EPOCH 1000iR、EPOCH 1000
(常規(guī)UT模式)
EPOCH 1000
(PA模式)
增益0 dB~110 dB0 dB~80 dB
大輸入信號(hào)20 Vp-p每個(gè)通道為250 mVp-p。
接收器輸入阻抗400 Ω ± 5%50 Ω ± 10%
接收器帶寬0.2~26.5 MHz,-3 dB0.5~12.5 MHz,-3 dB
接收器延遲不適用0~10 µs,分辨率為2.5 ns。
數(shù)字濾波器設(shè)置標(biāo)準(zhǔn)濾波器設(shè)置(通過EN12668-1測(cè)試,并符合EN12668-1要求):7個(gè)濾波器; 
高級(jí)濾波器設(shè)置(未經(jīng)EN12668-1測(cè)試):30個(gè)濾波器。
6個(gè)濾波器
檢波全波、正半波、負(fù)半波、射頻波
抑制0%~80%滿屏高,帶有可視警告。
波幅測(cè)量0%~110%滿屏高,分辨率為0.25%。
測(cè)量速率在所有模式下,相當(dāng)于PRF。
校準(zhǔn)
 EPOCH 1000、EPOCH 1000iR、EPOCH 1000
(常規(guī)UT模式)
EPOCH 1000
(PA模式)
自動(dòng)校準(zhǔn)• 聲速、零位偏移 
• 垂直聲束(一個(gè)底面回波,或回波到回波) 
• 角度聲束(聲程或者深度)
• 聲速、零位偏移、靈敏度 
• 聲程或深度(零位偏移)
檢測(cè)模式脈沖回波、雙晶或穿透脈沖回波
單位毫米、英寸、微秒
范圍3.33 mm~26,806 mm,鋼中縱波聲速。61個(gè)聚焦法則,3.33 mm~390.9.5 mm, 
在5900個(gè)m/s
聲速635 m/s~15240 m/s
零位偏移0 µs~750 µs不適用
顯示延遲-59 mm~25,400 mm0到大范圍
折射角度0°~85°,增量為0.1°。61個(gè)角度聚焦法則,增量為0.5°、1.0°、1.5°或2.0°, 
在-80°~+80°范圍內(nèi)可調(diào)。
閘門
 EPOCH 1000、EPOCH 1000iR、EPOCH 1000i
(常規(guī)UT模式)
EPOCH 1000i
(PA模式)
測(cè)量閘門2個(gè)*獨(dú)立的閘門,用于波幅和渡越時(shí)間的測(cè)量。
測(cè)量模式聲程聲程、深度
界面閘門可選,帶有閘門1和閘門2跟蹤不適用
閘門起點(diǎn)在整個(gè)顯示范圍內(nèi)可變。
閘門寬度在從閘門起點(diǎn)到顯示范圍的終點(diǎn)區(qū)域內(nèi)可變。
閘門高度在2%~95%滿屏高范圍內(nèi)可變。
報(bào)警• 正閾值和負(fù)閾值 
• 小深度
• 正閾值和負(fù)閾值(針對(duì)所選聚焦法則) 
• 小深度(針對(duì)所選聚焦法則)
參考光標(biāo)2個(gè)用于A掃描的參考光標(biāo)2個(gè)用于A掃描的參考光標(biāo);4個(gè)用于圖像的參考光標(biāo)
測(cè)量
 EPOCH 1000、EPOCH 1000iR、EPOCH 1000i
(常規(guī)UT模式)
EPOCH 1000i
(PA模式)
顯示的測(cè)量值6個(gè)位置(手動(dòng)或自動(dòng)選擇)
閘門1厚度、聲程、投射、深度、波幅、渡越時(shí)間、小/大深度、小/大波幅
閘門2與閘門1相同
界面(IF)閘門(可選)厚度不適用
回波到回波標(biāo)準(zhǔn)。在閘門2-1、閘門2-IF、閘門1-IF之間選擇。
其它測(cè)量DGS/AVG的上沖值(dB)、DGS/AVG的ERS(等效反射體大?。?、AWS D1.1/D1.5定級(jí)(D值)、抑制值
DAC/TVG標(biāo)準(zhǔn)
DAC點(diǎn)多達(dá)50個(gè)點(diǎn),110 dB動(dòng)態(tài)范圍多達(dá)20個(gè)點(diǎn),40 dB動(dòng)態(tài)范圍
特殊DAC模式20 %~80 % DAC、自定義DAC(多達(dá)6條曲線)不適用
TVG表多達(dá)50個(gè)點(diǎn),110 dB動(dòng)態(tài)范圍,在所有PRF設(shè)置下都與IF閘門兼容。多達(dá)20個(gè)點(diǎn),40 dB動(dòng)態(tài)范圍
曲面校正標(biāo)準(zhǔn)。角度聲束測(cè)量中,對(duì)管材或棒材的外徑校正。

焊縫系列探頭

焊縫檢測(cè)探頭帶有外殼及一條從前面或頂部伸出的線纜,以避免與掃查器探頭架產(chǎn)生干擾。這些探頭適用于對(duì)焊縫進(jìn)行的手動(dòng)和自動(dòng)檢測(cè)。新款A(yù)31和A32焊縫系列相控陣探頭和楔塊通過使用更少的設(shè)計(jì)方案,不僅使焊縫檢測(cè)得到簡(jiǎn)化和標(biāo)準(zhǔn)化,而且還改進(jìn)了信噪比。

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便攜式超聲波UT探傷儀升級(jí)相控陣PA EPOCH 1000

用于檢測(cè)焊縫的雙晶陣列探頭

雙矩陣(DMA)探頭包含兩個(gè)與同一個(gè)連接器連線的矩陣探頭,具有使用發(fā)送-接收縱波(TRL)聲束進(jìn)行檢測(cè)的能力。這類探頭在檢測(cè)帶堆焊層的管材或具有高衰減性的材料時(shí),特別有用。

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用于腐蝕檢測(cè)的雙晶陣列探頭

新型雙晶線性陣列探頭,在腐蝕檢測(cè)應(yīng)用方面,為檢測(cè)人員提供了多種優(yōu)于常規(guī)超聲雙晶探頭的優(yōu)勢(shì)。這種相控陣解決方案可以提供更大的聲束覆蓋范圍、更快的掃查速度,以及具有更高數(shù)據(jù)點(diǎn)密度的C掃描成像功能,從而可提高檢測(cè)效率。

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柔性相控陣探頭

我們的創(chuàng)新型柔性相控陣探頭可以使用戶完成新的檢測(cè)應(yīng)用。FlexoFORM掃查器可以使用一種柔性陣列探頭,對(duì)管道的彎頭區(qū)域進(jìn)行腐蝕檢測(cè)。

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小腳印探頭

小腳印探頭可進(jìn)入到活動(dòng)空間狹窄的區(qū)域(A00探頭的腳印尺寸為8×8毫米)。

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Universal(用途廣泛)探頭

用途廣泛的各種探頭與楔塊組合在一起的側(cè)面薄,可以較為容易地進(jìn)到空間狹小的區(qū)域。這些探頭可以和多種楔塊一起使用,進(jìn)行各種角度聲束檢測(cè)應(yīng)用。 這些探頭不僅用于對(duì)6.35毫米到38毫米的較厚焊縫進(jìn)行手動(dòng)或自動(dòng)檢測(cè),還可對(duì)鑄鐵、鍛件、管道、管件、機(jī)加工部件及結(jié)構(gòu)部件的裂縫和焊縫缺陷進(jìn)行檢測(cè)。

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近壁探頭

近壁探頭的兩端具有較短的盲區(qū)(一晶片的中心和后晶片的中心到與它們近的探頭外殼邊緣的距離是1.5毫米)。 它們可以好地適用于復(fù)合材料的通道檢測(cè),并用于復(fù)合材料的C掃描檢測(cè)(分層、脫膠和多孔性)。

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深穿透探頭

深穿透探頭可與各種楔塊配合使用,進(jìn)行各種角度聲束的檢測(cè)應(yīng)用。這些探頭于深穿透應(yīng)用,如對(duì)較厚平板、焊縫、鍛件,及多噪聲或晶粒狀材料的檢測(cè)。

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Immersion Probes

便攜式超聲波UT探傷儀升級(jí)相控陣PA EPOCH 1000

水浸探頭的設(shè)計(jì)目的是與水楔配合使用,或當(dāng)被測(cè)工件部分或全部浸入水中時(shí)在水浸箱中使用。這類探頭屬縱波探頭,但經(jīng)過設(shè)置后,使用Rexolite楔塊可以進(jìn)行折射橫波檢測(cè)。

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Curved Array Probes

曲面陣列探頭外包不銹鋼防腐鋼殼,在水面下1米以內(nèi)具有防水性能。這類探頭的聲學(xué)阻抗與水相配。它們可與所有可調(diào)節(jié)水浸楔塊配合使用,除了可完成復(fù)合材料的分層檢測(cè),還可對(duì)碳纖維加強(qiáng)聚合物材料(CFRP)的圓角部位進(jìn)行檢測(cè)。

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用于曲面陣列探頭的水浸角形楔塊

用于曲面陣列探頭的水浸角形楔塊具有特殊的半徑和角度,其半徑可調(diào)以適用于各種被測(cè)工件。這些楔塊的設(shè)計(jì)目的是用于手動(dòng)掃查,并配合袖珍輪式編碼器一起使用。

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一體化楔塊和符合規(guī)范的探頭

這種組合件將一體化楔塊和符合規(guī)范的探頭放置于同一個(gè)外殼中,這樣就使探頭和楔塊的組合件具有非常薄的側(cè)面,可以用于接觸式角度聲束檢測(cè)。由于無需在探頭和楔塊接觸面之間使用耦合劑,因此探頭和楔塊之間的耦合狀態(tài)會(huì)永遠(yuǎn)保持*的狀態(tài)。 這些探頭可對(duì)應(yīng)力腐蝕裂紋進(jìn)行手動(dòng)檢測(cè),還可用于符合AWS和DGS規(guī)范的應(yīng)用,此外,這些探頭還可同時(shí)使用40°到70°角度對(duì)6.35毫米到19毫米的較厚表面進(jìn)行手動(dòng)焊縫檢測(cè)(對(duì)接接頭、角接接頭、T型接頭)。

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用于角度聲束探頭的楔塊

用于角度聲束探頭的楔塊有可在鋼中生成0°、45°、55°、60°標(biāo)準(zhǔn)的折射角度的型號(hào),可進(jìn)行從30°到70°范圍內(nèi)的橫波或縱波角度聲束檢測(cè)。這些楔塊帶有不銹鋼螺釘孔,可將楔塊牢固地安裝在探頭上。 可訂購的IHC楔塊可以提高檢測(cè)質(zhì)量:灌溉,楔塊架上的安裝孔可用于連接Olympus的掃查器,硬質(zhì)合金條可提高防磨效果。

 


 

  上海玖橫儀器有限公司是一家專業(yè)從事儀器儀表研發(fā)、生產(chǎn)、銷售及服務(wù)的企業(yè)。超聲波探傷儀:(EPOCH 600超聲探傷儀、EPOCH 6LT超聲探傷儀、EPOCH 650超聲探傷儀、EPOCH 1000超聲探傷儀、USM 36超聲探傷儀、USN 60超聲探傷儀、USM go+超聲探傷儀、Ominscan SX相控陣探傷儀、OmniScan MX2相控陣TOFD探傷儀);超聲波測(cè)厚儀:(27MG超聲波測(cè)厚儀、45MG超聲波測(cè)厚儀、38DL PLUS超聲波測(cè)厚儀、DM5E超聲波測(cè)厚儀、CL5超聲波測(cè)厚儀、MAGNA-MIKE 8600霍爾效應(yīng)測(cè)厚儀,ETG-100電磁高溫測(cè)厚儀);超聲波探頭;定制相控陣探頭;渦流探傷儀:(NORTEC 600渦流探傷儀);硬度計(jì);DR平板探測(cè)器:1313DX ,1515DXT-I ,2520DX ,2530HE,4343HE, Dexela 1207 ,Dexela 1313 ,Dexela 2121S ,Dexela CMOS平板探測(cè)器 ,XRD 0822 ,XRD 1611 ,XRD 1621 ,XRD 4343RF ,XRD 3025 ,XRpad 4336 ,XRpad 4343 F ,XRpad2 3025 ,XRpad2 4336。內(nèi)窺鏡:(IPLEX NX奧內(nèi)窺鏡、IPLEX GX/GT林內(nèi)窺鏡、IPLEX G Lite巴內(nèi)窺鏡、IPLEX TX斯內(nèi)窺鏡、IPLEX YS奧內(nèi)窺鏡、XLGo+工業(yè)視頻內(nèi)窺鏡GE、XL Detect+工業(yè)視頻內(nèi)窺鏡GE新款、UVin專業(yè)紫外視頻內(nèi)窺鏡、);脈沖發(fā)生器:(DRP300替代林的5072PR,5073PR);合金分析儀:(Vanta巴手持式合金分析儀、DELTA Professional手持式合金分析儀斯、DELTA Element手持式合金分析儀)等儀器儀表,上海玖橫儀器有限公司秉承“誠信為本,顧客至上”的經(jīng)營理念;并以價(jià)格的優(yōu)勢(shì),服務(wù)的優(yōu)質(zhì)與各行取的友好的合作伙伴,為經(jīng)營規(guī)模的不斷擴(kuò)大奠定良好的基礎(chǔ),立志成為國內(nèi)的儀器儀表企業(yè)! 我們始終以客戶的利益為根本,堅(jiān)持為海內(nèi)外客戶提供優(yōu)質(zhì)的產(chǎn)品與服務(wù),以此贏得更多客戶的信任。 歡迎惠顧! 您的滿意是我們的追求。上海玖橫儀器有限公司SWC-2橫波耦合劑,橫波探頭的耦合劑。

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